Качественная электронная компонентная база является важнейшим элементом современной техники и электроники, определяющим её долговечность и эффективность эксплуатации. Для проверки качества и надежности электронных компонентов НИИЭТ (входит в Группу компаний «Элемент», MOEX:ELMT) предлагает специальное испытательное оборудование — динамический стенд СИТ Д30, позволяющий моделировать реальные условия эксплуатации изделия и выявить его возможные недостатки.

Отличие стенда от других моделей заключается в загрузке 30 изделий для испытания одновременно.

Основные параметры испытательного оборудования:

• питание стенда осуществляется от трехфазной пятипроводной сети переменного

тока напряжением 380 В частотой 50 Гц.

• габаритные размеры стенда, не более:

- ширина: 800 мм;

- высота: 2100 мм;

- глубина: 1000 мм;

- масса стенда, не более: 500 кг.

• токи по фазам и электрическая мощность, потребляемая стендом, не более:

- фаза А: не более 55 А;

- фаза В: не более 55 А;

- фаза С: не более 55 А;

- мощность: 36 000 В.

• рабочий диапазон напряжений источников питания: (5÷60) В;
• нестабильность напряжения при изменении тока от 0 до 12,5 А не более ± 2 %;
• нестабильность напряжения при изменении напряжения сети на ±10 % не более ± 2 %;
• амплитуда пульсаций напряжения не более ± 2 %;
• погрешность измерения источниками питания напряжения не более ± 2 %;
• погрешность измерения источниками питания тока не более ± 2 %;
• срабатывание защиты от перегрузки по току при превышении заданного значения защиты не более 5%;
• диапазон воспроизводимой температуры теплоотводящих пластин (35÷95) °С;
• время достижения предельного значения воспроизводимой температуры и установления теплового режима не более 90 мин;
• отклонение воспроизводимой температуры теплоотводящих пластин от заданного значения не более ±3 °С;
• срабатывание тепловой защиты при превышении температуры на 5 °С относительно заданного значения в диапазоне от +35 до +95 °С.

Динамический стенд СИТ Д30 предназначен для комплексного испытания электронных компонентов на предмет их устойчивости к различным внешним факторам.

Использование динамических стендов при испытании электронных компонентов обеспечивает ряд ключевых преимуществ перед традиционными методами тестирования:

- Имитация реальных условий: Возможность воспроизведения эксплуатационных нагрузок, включая температурные циклы, вибрации, механические воздействия и электрические нагрузки.
- Повышение точности диагностики: Выявление скрытых дефектов и слабых мест изделия на ранних этапах разработки и производства.
- Экономия ресурсов: Сокращение затрат на тестирование благодаря автоматизации процессов и снижению количества отказов в серийной продукции.

Примечательно, что испытательный стенд СИТ Д-30 - один из представителей флагманской линейки испытательных стендов, предназначенный для проведения отбраковочных испытаний и испытаний ЭКБ на надёжность, впервые был представлен широкой публике на сентябрьском крупнейшем отраслевом российском форуме «Микроэлектроника-2025». Презентация данного испытательного оборудования нашла широкий отклик среди участников и посетителей мероприятия.

Применение испытательного оборудования НИИ электронной техники позволяет значительно повысить качество и надежность электронных компонентов, обеспечивая конкурентоспособность продукции и удовлетворенность потребителей.

Подробную информацию о всей линейке испытательного оборудования производства НИИЭТ можно узнать на сайте производителя https://niiet.ru/product-category/testing/.